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MiniTest730覆層測厚儀

MiniTest730覆層測厚儀

簡要描述:

MiniTest730覆層測厚儀
**的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術提升了測量的**性
-測量范圍達15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭
-FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯

更新時間:2024-11-17

MiniTest730覆層測厚儀

MiniTest720/730/740涂層測厚儀是德國EPK新的MINITEST700產(chǎn)品線,加強了德國EPK(Elektrophysik)公司在涂層測厚市場的。新型涂鍍層測厚儀MINITEST700系列,有一體和分體,帶存儲統(tǒng)計功能,便攜小巧方便操作 。

增加了測量速度設置選項
MiniTest720/730/740涂層測厚儀可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下,您可以短時間測量大量數(shù)值;也可以只測量少數(shù)幾個數(shù)值,但要求精度很高,您只需選擇相應的模式就可以做到。測量值超過您所設定的極限值時,儀器會報警,保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警,在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。

有了新的SIDSP探頭,您可享受到高**度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。MiniTest720/730/740涂層測厚儀可以解決您所有涂層厚度問題,而產(chǎn)品上等的外觀是您價值和成功的關鍵,比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑,或電鍍等行業(yè)。

**的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術提升了測量的**性
-測量范圍達15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭
-FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯

 使用簡單方便
MiniTest720/730/740涂層測厚儀按照人體工學設計,外形很適合人手掌握。為了質量控制和檢驗的靈活性,MINITEST740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭,方便測量難以到達的部位。MiniTest720/730/740涂層測厚儀可以滿足您所有涂層測量需求:如果您想單手測量,可以選擇內(nèi)置探頭的MINITEST 720。MINITEST730則是外置探頭的。所有型號都配有超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉,方便您讀取數(shù)據(jù)。

預設選項節(jié)省您的時間和金錢
所有MINITEST700系列涂層測厚儀的探頭都可以對不規(guī)則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時,整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎上進行校準。為節(jié)省您的時間和金錢,儀器預設了大量校準方法,適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準,零點校準,兩點校準和三點校準。另外,還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準。FN探頭自動識別基體類型避免操作者犯錯。為適應銷售需要,MiniTest720/730/740涂層測厚儀滿足各種標準:SSPC-PA2、ISO、瑞典(SS184160)、澳大利亞(AS 3894.3)、ISO19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。

MiniTest730覆層測厚儀

MiniTest720/730/740涂層測厚儀優(yōu)點一覽:
-SIDSP使測量不受干擾,測值更加**
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高**度的特征曲線
-大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
-超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
-可下載更新軟件

 MiniTest720/730/740涂層測厚儀標準配置

-MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
--或MINITEST 730(外置探頭)
--或MINITEST 740主機(不含探頭,有各種探頭可選)
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
-中文說明書
-2節(jié)AA電池
-塑料手提箱

 MiniTest720/730/740涂層測厚儀技術參數(shù)
主機

主機型號MINITEST 720MINITEST 730MINITEST 740
探頭類型內(nèi)置外置內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)1010100
存儲數(shù)據(jù)量*多10,000個*多10,000個*多100,000個
統(tǒng)計值讀值個數(shù)、*小值、*大值、平均值、標準方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計值(標準設置/自由配置)
校準程序符合標準和規(guī)范ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準
校準模式出廠設置校準、零點校準、兩點校準、三點校準,使用者可調(diào)節(jié)補償值
極限值監(jiān)控聲、光報警提示超過極限
測量單位μm,mm,cm;mils,inch,thou
操作溫度-10℃~60℃
存放溫度-20℃~70℃
數(shù)據(jù)接口IrDA1.0(紅外接口)
電源2節(jié)AA電池
標準DIN EN ISO1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2
體積157mm x75.5mm x 49mm
重量約175g約210g約175g(內(nèi)置)/230g(外置)


探頭

探頭特性

F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5

F2

F5,N2.5,F(xiàn)N5

F15

F

N

F

F

N

F

測量范圍

0~1.5mm

0~0.7mm

0~-2mm

0~5mm

0~2.5mm

0~15mm

使用范圍

小工件,薄涂層

粗糙表面

標準探頭,使用廣泛

厚涂層

測量原理

磁感應

電渦流

磁感應

磁感應

電渦流

磁感應

信號處理

探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP)

**度

±(1μm+0.75%讀值)

±(1.5μm+0.75%讀值)

±(5μm+0.75%讀值)

重復性

±(0.5μm+0.5%讀值)

±(0.8μm+0.5%讀值)

±(2.5μm+0.5%讀值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

*小曲率半徑(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

*小曲率半徑
(凹,外置探頭)

7.5mm

10mm

25mm

*小曲率半徑
(凹,內(nèi)置探頭)

30mm

30mm

30mm

*小測量面積

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

*小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續(xù)模式下測量速度

每秒20個讀數(shù)

單值模式下*大測量速度

每分鐘70個讀數(shù)

 


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